Optris推出PI 640i红外热像仪，搭载全新的显微镜光学元件

搭载新型 2 倍放大率的 MO2X 显微镜光学元件，Optris 的 PI 640i 红外热像仪现在甚 至能够捕捉复杂结构的红外图像。 为了精确测量温度，需要 4×4 像素（MFOV），因此现在可以测量尺寸仅为 34 µm 的 物体。

也就是说，即使是芯片级的微小结构，也能够进行精确分析。 80 mK 的热分辨 率对于该光学元件而言是相当出色的。 新型光学元件的调焦功能使其能够在距离被测 物体 15 mm 的范围内工作。 由于 PI 系列红外热像仪上的光学元件可轻松更换，因此该系统可以灵活用于各种测量 任务。 搭配随附的带微调功能高质量显微镜支架，可轻松检测微电子组件。

红外热像 仪的最大分辨率为 640 x 480 像素，帧率为 32 Hz，即使提高到 125 Hz，PI 640i 仍 能以 640 x 120 像素进行成像。 交付范围包括免许可证 PIX Connect 分析软件；此外，还提供完整的软件开发工具包 （SDK）。